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KOMEG Technology Ind Co., Limited
ホーム 製品熱衝撃試験槽

セリウムの印高低の温度の 3 地帯の熱衝撃のテストの部屋

中国 KOMEG Technology Ind Co., Limited 認証
中国 KOMEG Technology Ind Co., Limited 認証
速い配達および良質品。

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セリウムの印高低の温度の 3 地帯の熱衝撃のテストの部屋

CE Mark High and Low Temperature 3-Zone Thermal Shock Testing Chamber
CE Mark High and Low Temperature 3-Zone Thermal Shock Testing Chamber CE Mark High and Low Temperature 3-Zone Thermal Shock Testing Chamber CE Mark High and Low Temperature 3-Zone Thermal Shock Testing Chamber CE Mark High and Low Temperature 3-Zone Thermal Shock Testing Chamber

大画像 :  セリウムの印高低の温度の 3 地帯の熱衝撃のテストの部屋

商品の詳細:
起源の場所: 中国
ブランド名: KOMEG
証明: CE, ISO,
モデル番号: KTS-72B
お支払配送条件:
最小注文数量: 台分
価格: negotiation
パッケージの詳細: カートンで第一に詰められ、次に外のパッキングのための合板の箱と補強されて
受渡し時間: 45 仕事日はの後のあなたの支払を受け取りました
支払条件: 交渉可能な T/T
供給の能力: 1000 セット/年
詳細製品概要
部屋モデル: KTS シリーズ 薬室容積のサイズ: 27L への 480L
衝撃の範囲: -55ºC~+150ºC 最高の温度: 200°C
低温: -70°C 遷移時間: ≤15S
回復時間: 5min 温度変化率: 50°C/min への 15
ハイライト:

温度衝撃試験槽

,

冷熱衝撃装置

電子機器の信頼性試験用CEマーク高温および低温3ゾーン熱衝撃試験室

1. 熱衝撃試験室の 特徴

1.3ゾーン設計:高温ゾーン、低温ゾーン、テストゾーン
2.試験中の試験片は試験ゾーン内で静止しています。
使いやすさのための3.Touch制御操作インターフェイス。
熱衝撃試験室のための高温または低温衝撃のための4.Max.999Hおよびmax.9999サイクル
5.自動サイクリングショックまたは手動選択ショック。
迅速な冷却効果のための6.Water冷却、バイナリ冷却システム。
7.日本は特に銅管の溶接のための継ぎ目が無い溶接機を、輸入しました

説明とアプリケーション


この機械は、瞬間的かつ連続的な高温および極低温環境で、すなわち化学変化または物理的危害によって引き起こされるその熱膨張および収縮を試験するための最短時間で、材料構造および複合材料の支持範囲を試験するために使用される。 金属、プラスチック、ゴム、電子機器などの材料を含むアプリケーションオブジェクトは、それらの製品または参照を改善するための基礎として使用できます。

熱衝撃試験は、通常の使用中に温度サイクルまたは熱衝撃によって引き起こされる故障を加速させるために、製品を低温と高温が交互にさらされるようにします。 極端な温度間の遷移は非常に急速に起こり、15℃/分を超えます。

3.仕様

(1)KTS-Aシリーズ

モデル

KTS-Aシリーズ

72A

100A

150A

200A

252A

300A

480A

内寸(mm)

W

450

500

600

670

700

800

800

H

400

450

500

600

600

600

800

D

400

450

500

500

600

650

750

外寸(mm)

W

1490年

1540年

1640年

1720年

1750年

1850年

1850年

H

1790年

1840年

1890年

2000年

2000年

2000年

2200

D

1600

1700年

1830年

1850年

1930年

1980年

2500

テスト重量

5

10年

12年

15年

18年

20

20

低温チャンバー

-55℃〜-10℃、予備冷却時間:+ 20℃〜-55℃から≤60分

テスト室

-40℃〜+ 150℃

高温チャンバー

+ 60℃〜+ 200℃、20分以内、予熱時間

遷移時間

≦15S

回復時間

試験サンプルの必要な高温温度に到達し安定させるための高温暴露30分

試験サンプルの必要な低温温度に到達し安定させるための低温暴露30分

≦5分

周りの派遣社員。

+ 5℃〜+ 35℃

AC 380±10%50Hz 3相4線+アース線

(2)KTS-Bシリーズ

モデル

KTS-Bシリーズ

72B

100B

150B

200B

252B

300B

480B

内寸(mm)

W

450

500

600

670

700

800

800

H

400

450

500

600

600

600

800

D

400

450

500

500

600

650

750

外寸(mm)

W

1490年

1540年

1640年

1720年

1750年

1850年

1850年

H

1790年

1840年

1890年

2000年

2000年

2000年

2200

D

1600

1700年

1830年

1850年

1930年

1980年

2500

テスト重量(KG)

5

10年

12年

15年

18年

20

20

低温 部屋

-70℃〜-10℃、予備冷却時間:+ 20℃〜-70℃、≦60分

テスト。 商工会議所

-55℃〜+ 150℃

高温。 チャンバー温度

+ 60℃〜+ 200℃、予熱時間:≦20分

遷移時間

≦15S

回復時間

試験サンプルの必要な高温温度に到達し安定させるための高温暴露30分

試験サンプルの必要な低温温度に到達し安定させるための低温暴露30分

≦5分

周りの派遣社員。

+ 5℃〜+ 35℃

AC 380±10%50Hz 3相4線+アース線

(3)KTS-Dシリーズ

モデル

KTS-Dシリーズ

72D

100D

150D

200D

252D

300D

480D

内寸(mm)

W

450

500

600

670

700

800

800

H

400

450

500

600

600

600

800

D

400

450

500

500

600

650

750

外寸(mm)

W

1490年

1540年

1640年

1720年

1750年

1850年

1850年

H

1790年

1840年

1890年

2000年

2000年

2000年

2200

D

1600

1700年

1830年

1850年

1930年

1980年

2500

テスト重量

5

10年

12年

15年

18年

20

20

低温チャンバー

-80℃〜-10℃、予備冷却時間:+ 20℃〜-80℃から≤60分

テスト室

-65℃〜+ 150℃

高温チャンバー

+ 60℃〜+ 200℃、20分以内、予熱時間

遷移時間

≦15S

回復時間

試験サンプルの必要な高温温度に到達し安定させるための高温暴露30分

試験サンプルの必要な低温温度に到達し安定させるための低温暴露30分

≦5分

周りの派遣社員。

+ 5℃〜+ 35℃

AC 380±10%50Hz 3相4線+アース線

4.商品の詳細写真:

連絡先の詳細
KOMEG Technology Ind Co., Limited

コンタクトパーソン: Anna Hu

電話番号: +8618098282716

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