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KOMEG Technology Ind Co., Limited
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電子工学の性能試験のための高低の温度の熱衝撃の部屋

中国 KOMEG Technology Ind Co., Limited 認証
中国 KOMEG Technology Ind Co., Limited 認証
速い配達および良質品。

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電子工学の性能試験のための高低の温度の熱衝撃の部屋

High and Low Temperature Thermal Shock Chamber for Electronics Performance Testing

大画像 :  電子工学の性能試験のための高低の温度の熱衝撃の部屋

商品の詳細:
起源の場所: 中国
ブランド名: KOMEG
証明: CE, ISO,
モデル番号: KTS-72B
お支払配送条件:
最小注文数量: 台分
価格: 交渉可能
パッケージの詳細: カートンで第一に詰められ、次に外のパッキングのための合板の箱と補強されて
受渡し時間: 45 仕事日はの後のあなたの支払を受け取りました
支払条件: 交渉可能な T/T
供給の能力: 1000 セット/年
詳細製品概要
チャンバーモデル: KTSシリーズ チャンバー容積サイズ: 27L~480L
衝撃範囲: -65℃~+150℃ 最高温度: 200°c
低温: -80°C 遷移時間: ≤10S
回復時間: 5min 調達期間: 60日
ハイライト:

温度衝撃試験槽

,

冷熱衝撃装置

 

エレクトロニクス性能試験用の高温および低温熱衝撃チャンバー

 

 

1.KOMEG サーマルショックチャンバーの特徴:

 

1. 保温材には、高強度PUフォームと高密度ガラス繊維綿を使用しており、高精度でより優れた均一性を保証し、不必要なエネルギー損失を回避します。一方、当社の設計により、ウォークイン チャンバーを操作する際の作業員の安全をより確実に確保できます。

 

2.内壁とハウジングの材質:

小型標準モデルの場合、通常、内壁はステンレス鋼 #304 1.0mm、ハウジングはステンレス鋼 #304 1.2mm を使用します。

より大きなモデルや特別なニーズに合わせてカスタマイズされたモデルの場合、1.5 ~ 3.0 mm のステンレス鋼 #304 の内壁、1.5 mm 以上のステンレス鋼 #304 のハウジングを使用します。

 

3.内箱の材質は輸入SUS304#実装ステンレス鋼、外箱は鋼板で、塗装工程は自動車塗装技術を応用しています。ボックス本体はトライアンフの加工機で形状を加工しており、綺麗な形状となっております。

 

4.大型フルカラーLCDタッチスクリーンディスプレイ、簡単な操作、簡単なプログラム編集。PID自動計算機能付き。自己診断機能、障害メッセージと障害ショットの解決策を段階的に表示します。

 

5. RS-232およびRS-485通信インターフェイス、マッチングレコーダー、強力な拡張性。Wi-Fi または有線 (推奨) を介した PC によるリモート制御もサポートしています。

 

2.以下は、3 ゾーン熱衝撃チャンバーと 2 ゾーン熱衝撃チャンバーの違いです。

 

3ゾーン熱衝撃チャンバー:

合計 3 つのチャンバー:​​ テストスペース、高温。チャンバーと低温。チャンバー;

利点: テストサンプルの重量にわずかな制限があるため、テストサンプルは静止したままになり、移動によるサンプルへの衝撃を軽減でき、負荷試験に使用できます。

2ゾーンタイプに比べ故障率が比較的低く、低コストです。

欠点: 変換時間が長い

 

2ゾーン熱衝撃チャンバー:

チャンバーは 2 つだけ: 高温。チャンバーと低温チャンバー

利点: 変換時間は短く、必要なスペースは小さくなります

欠点: テストサンプルが移動する。テストサンプルのサイズはバスケットのサイズによって制限されます

 

3. 仕様

 

(1) KTS-Aシリーズ

モデル

 

KTS-Aシリーズ

72A

100A

150A

200A

252A

300A

480A

内寸(mm)

W

450

500

600

670

700

800

800

H

400

450

500

600

600

600

800

D

400

450

500

500

600

650

750

外形寸法(mm)

W

1490年

1540年

1640年

1720年

1750年

1850年

1850年

H

1790年

1840年

1890年

2000年

2000年

2000年

2200

D

1600

1700

1830年

1850年

1930年

1980年

2500

試験重量

5

10

12

15

18

20

20

低温チャンバー

-55℃~-10℃、予冷時間:+20℃~-55℃で60分以内

テストチャンバー

-40℃~+150℃

高温チャンバー

+60℃~+200℃ 20分以内 予熱時間

移行時間

≤15S

回復時間

テストサンプルの必要な高温に到達して安定させるための 30 分間の高温暴露

低温暴露 試験サンプルの必要な低温に達し、安定させるために 30 分間

5分以内

周りの派遣社員。

+5℃~+35℃

AC 380±10% 50Hz、三相4線+アース線

 

(2)KTS-Bシリーズ

 

モデル

 

KTS-Bシリーズ

72B

100B

150B

200B

252B

300B

480B

内寸(mm)

W

450

500

600

670

700

800

800

H

400

450

500

600

600

600

800

D

400

450

500

500

600

650

750

外形寸法(mm)

W

1490年

1540年

1640年

1720年

1750年

1850年

1850年

H

1790年

1840年

1890年

2000年

2000年

2000年

2200

D

1600

1700

1830年

1850年

1930年

1980年

2500

試験重量(KG)

5

10

12

15

18

20

20

低温チャンバー

-70℃~-10℃、予備冷却時間:+20℃~-70℃、≤ 60分

テスト。チャンバー

-55℃~+150℃

高温。チャンバー温度

+60℃~+200℃、予熱時間:≦20分

移行時間

≤15S

回復時間

テストサンプルの必要な高温に到達して安定させるための 30 分間の高温暴露

低温暴露 試験サンプルの必要な低温に達し、安定させるために 30 分間

5分以内

周りの派遣社員。

+5℃~+35℃

AC 380±10% 50Hz、三相4線+アース線

(3) KTS-Dシリーズ

モデル

 

KTS-Dシリーズ

72D

100D

150D

200D

252D

300D

480D

内寸(mm)

W

450

500

600

670

700

800

800

H

400

450

500

600

600

600

800

D

400

450

500

500

600

650

750

外形寸法(mm)

W

1490年

1540年

1640年

1720年

1750年

1850年

1850年

H

1790年

1840年

1890年

2000年

2000年

2000年

2200

D

1600

1700

1830年

1850年

1930年

1980年

2500

試験重量

5

10

12

15

18

20

20

低温チャンバー

-80℃~-10℃、予冷時間:+20℃~-80℃で60分以内

テストチャンバー

-65℃~+150℃

高温チャンバー

+60℃~+200℃ 20分以内 予熱時間

移行時間

≤15S

回復時間

テストサンプルの必要な高温に到達して安定させるための 30 分間の高温暴露

低温暴露 試験サンプルの必要な低温に達し、安定させるために 30 分間

5分以内

周りの派遣社員。

+5℃~+35℃

AC 380±10% 50Hz、三相4線+アース線

 

4.製品の詳細画像:

 

電子工学の性能試験のための高低の温度の熱衝撃の部屋 0

 

電子工学の性能試験のための高低の温度の熱衝撃の部屋 1

 

 

 

連絡先の詳細
KOMEG Technology Ind Co., Limited

コンタクトパーソン: Ms. KOMEG

電話番号: +86-13143135835

ファックス: 86-769-83396675

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