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KOMEG Technology Ind Co., Limited
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155L ICの半導体のための気候上停止Hastの老化テスト部屋

中国 KOMEG Technology Ind Co., Limited 認証
中国 KOMEG Technology Ind Co., Limited 認証
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155L ICの半導体のための気候上停止Hastの老化テスト部屋

155L Climatic Halt Hast Aging Test Chamber For IC Semiconductors
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大画像 :  155L ICの半導体のための気候上停止Hastの老化テスト部屋

商品の詳細:
起源の場所: 中国
ブランド名: Komeg
証明: CE approval
モデル番号: Hast -55
お支払配送条件:
最小注文数量: 1PCS
価格: Negotiation
パッケージの詳細: 堅い多泡および木箱
受渡し時間: 35日後順序を確認するため
支払条件: L/C、T/T、ウェスタン・ユニオン
供給の能力: 100PCS /DAY
詳細製品概要
臨時雇用者の範囲: +105℃~+135℃ 臨時雇用者の偏差: ≦の± 0.5℃
圧力範囲: ゲージ圧:+0.2 | 200Kpa *Absolute圧力:100 | 300Kpa 内部材料: ステンレス鋼
外部材料: 焼かれた塗る鋼鉄 暖房の稼働時間: 0.7℃~1.0℃/minutes (平均)
ハイライト:

ICの半導体の老化テスト部屋

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155L老化テスト部屋

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ICの半導体のHastテスト部屋

ICの半導体のための気候上停止/Hastの老化テスト部屋

HAST 55指定(2).pdf

 

155L ICの半導体のための気候上停止Hastの老化テスト部屋 0

 

 

容積および次元

 

2.1の容積 155Lについて
2.2内部のサイズ Ø550 mm*D650mm (ドラム タイプ圧力内部箱)
2.3外部のサイズ

W900 mm*H1552mm*D1500 mm (機械の突出の部品を除いて!)

先端:外のり寸法のために、最終的な設計に従って3つの意見を確認しなさい!

3. 主要な技術的な変数

3.1テスト条件

涼しい方法::自然な冷却するか、または空気清浄になること

負荷の下で正常な圧力101.3Kpaで測定される+25 ℃の室温で測定されて温度および湿気の性能試験はGB/T 2424.5かIEC60068 -3に従って関連した規則に従って測定されない;センサーは単位を扱う空気の空気出口に置かれる。

3.2温度較差 +105℃~+135℃ (100%の相対湿度で)
3.3Temp変動 ±0.5℃
3.4Temp均等性 ≤±3.0℃
3.5Temp偏差 ≤±3.0℃
3.6湿気範囲

1) ハム雑音の不飽和テスト モード:65~100%RH

2) STDの飽和テスト モード:100%RH

3.7湿気の変動 ±3.0%RH
3.8湿気の偏差 ±5.0%RH
3.9温度変化率

率を熱しなさい:

+25℃~+135℃、フル レンジの平均速度およそ45分(の暖房無し正価格販売)

3.10負荷 いいえ
  注:負荷の下で+25 ℃の室温で測定されて、温度および湿気の性能試験はGB/T 2424.5かIEC60068 -3に従って関連した規則に従って測定されない;センサーは単位を扱う空気の空気出口に置かれる。
3.11圧力範囲

ゲージ圧:+0.2 | 200Kpa

*Absolute圧力:100 | 300Kpa

3.12圧力偏差 ≤±2 kPa
3.13圧力上昇時間 200Kpa 20minへの大気圧

 

部屋の構造

4.1造り

必要なドラム圧力容器の構造

国民の安全容器の標準に従いなさい

ドラムの内部箱の設計は上および滴る水に凝縮を防ぐ

4.2絶縁材のエンクロージャの構造 外のスプレーのプラスチックanti-corrosion電気分解の版-中間絶縁材の層温度の抵抗力がある泡の絶縁材はある-内部箱SUS316のステンレス鋼の版

4.3外部

材料

良質のanti-corrosion電気分解板、表面の静電気の粉のベーキング ペンキ。、KOMEGの標準的な色。
4.4内部材料

SUS316ステンレス鋼;全溶接される内部の壁

 

4.5絶縁材 Superfineグラス ウールの絶縁材の層、炎-抑制等級A1

4.6ドア

 

単一の開いた左にドア、開く;

Flush-mounted回転式ハンドル

4.10単位 水貯蔵タンク、冷却用空気の出口、自動水補充ポンプ、水補充の電磁弁、水位箱、水抜き穴

 

適用:

それは加速された老化する生命テストのためのICの半導体、コネクター、サーキット ボード、磁気材料、ポリマー材料、エヴァ、光起電モジュールおよび他の関連製品で広く利用されている

 

製品の説明

非常に加速された老化するテスト(HAST)の目的は(電圧、負荷、等はプロダクトに適用した)プロダクト環境ストレス(温度のような)および働く圧力を高めること、テスト プロセスをスピードをあげ、そしてプロダクトまたはシステムの生命テスト時を短くする。、半導体製品の信頼性は改良した。現在、ほとんどの電子デバイスは失敗なしで長期高温および高湿度の偏差テストに抗できる。従って完成品の質を定める、テスト時間はまたたくさん増加したのが常であった。プロダクトの設計段階ではすぐにプロダクトの欠陥そして弱さを露出することを、使用しプロダクトのシーリングおよび老化する性能をテストする。

 

特徴:

 

◆テスト プロセスのプロダクトの過熱蒸気の直接影響を避け、試験結果に影響を与えるために内部タンクはテストの凝縮そして点滴注入の現象を防ぐことができる二重層アークの設計を採用する。

◆12,500のプログラムの250グループが付いている7インチの本来の性格タッチ画面を使用して、USBのカーブ データ ダウンロード機能と、RS-485通信用インタフェース。

◆直接測定のための乾湿両方の球根センサーを使用して(制御モードは3つのモードに分けられる:乾燥したおよび湿球の、不飽和およびぬれた飽和)。

 

写真は示す

 

155L ICの半導体のための気候上停止Hastの老化テスト部屋 1

155L ICの半導体のための気候上停止Hastの老化テスト部屋 2

 

連絡先の詳細
KOMEG Technology Ind Co., Limited

コンタクトパーソン: Anna Hu

電話番号: +8618098282716

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